กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเป็นกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ลำแสงเร่งอิเล็กตรอนเป็นแหล่งที่มาของการส่องสว่าง เนื่องจากความยาวคลื่นของอิเล็กตรอนอาจสั้นกว่าโฟตอนแสงที่มองเห็นได้ถึง 100,000 เท่ากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจึงมีกำลังในการแยกแสงสูงกว่ากล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงและสามารถเปิดเผยโครงสร้างของวัตถุขนาดเล็กได้ กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนได้ประสบความสำเร็จดีกว่า 50  เมตรความละเอียดในวงแหวนสนามมืดถ่ายภาพโหมด[1]และกำลังขยายถึงประมาณ 10,000,000 ×ขณะที่ส่วนใหญ่กล้องจุลทรรศน์แสงถูก จำกัด โดยการเลี้ยวเบนที่ความละเอียดประมาณ 200  นาโนเมตรและกำลังขยายที่มีประโยชน์ต่ำกว่า 2,000 ×

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านที่ทันสมัย
แผนภาพของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสร้างโดย Ernst Ruskaในปีพ. ศ. 2476

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนใช้สนามแม่เหล็กที่มีรูปร่างเพื่อสร้างระบบเลนส์ออพติคอลอิเล็กตรอนที่คล้ายคลึงกับเลนส์แก้วของกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจะใช้ในการตรวจสอบultrastructureของหลากหลายของตัวอย่างทางชีวภาพและอนินทรีรวมทั้งจุลินทรีย์ , เซลล์ขนาดใหญ่โมเลกุล , การตรวจชิ้นเนื้อตัวอย่างโลหะและคริสตัล อุตสาหกรรมอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์มักจะใช้สำหรับการควบคุมคุณภาพและการวิเคราะห์ความล้มเหลว กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสมัยใหม่ผลิตบอร์ดอิเล็กตรอนโดยใช้กล้องดิจิทัลเฉพาะและตัวจับเฟรมเพื่อจับภาพ

แผนภาพแสดงปรากฏการณ์ที่เกิดจากปฏิสัมพันธ์ของอิเล็กตรอนที่มีพลังสูงกับสสาร

ในปีพ. ศ. 2469 Hans Busch ได้พัฒนาเลนส์แม่เหล็กไฟฟ้า

ตามที่Dennis Gaborนักฟิสิกส์LeóSzilárdพยายามในปีพ. ศ. 2471 เพื่อโน้มน้าวให้เขาสร้างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนซึ่งเขาได้ยื่นจดสิทธิบัตร [2]กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้นแบบแรกความสามารถในการ 4-100 พลังงานขยายได้รับการพัฒนาในปี 1931 โดยนักฟิสิกส์Ernst Ruskaและวิศวกรไฟฟ้าMax Knoll [3]เครื่องมือนี้เป็นการสาธิตหลักการของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในทางปฏิบัติเป็นครั้งแรก [4]ในเดือนพฤษภาคมของปีเดียวกันReinhold Rudenbergผู้อำนวยการด้านวิทยาศาสตร์ของSiemens-Schuckertwerkeได้รับสิทธิบัตรสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ในปีพ. ศ. 2475 Ernst Lubcke จากSiemens & Halske ได้สร้างและได้รับภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนต้นแบบโดยใช้แนวคิดที่อธิบายไว้ในสิทธิบัตรของ Rudenberg [5]

ในปีต่อมา พ.ศ. 2476 รุสก้าได้สร้างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวแรกที่มีความละเอียดเกินความละเอียดที่สามารถทำได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบออปติคัล (แสง) [4]สี่ปีต่อมาในปีพ. ศ. 2480 ซีเมนส์ได้สนับสนุนเงินทุนให้กับงานของ Ernst Ruska และBodo von Borriesและจ้างHelmut Ruskaน้องชายของ Ernst เพื่อพัฒนาแอปพลิเคชันสำหรับกล้องจุลทรรศน์โดยเฉพาะอย่างยิ่งกับตัวอย่างทางชีววิทยา [4] [6]นอกจากนี้ในปี 1937 เฟรดฟอน Ardenneหัวหอกกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน [7]ซีเมนส์ผลิตกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเชิงพาณิชย์เครื่องแรกในปี พ.ศ. 2481 [8]กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนตัวแรกของอเมริกาเหนือสร้างขึ้นในปี พ.ศ. 2481 ที่มหาวิทยาลัยโตรอนโตโดยอีไลแฟรงคลินเบอร์ตันและนักศึกษา Cecil Hall, James Hillierและ Albert Prebus ซีเมนส์ผลิตกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) ในปี 1939 [ ต้องการชี้แจง ] [9]แม้ว่าปัจจุบันกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์มีความสามารถในการขยายสองล้านอำนาจเป็นเครื่องมือทางวิทยาศาสตร์ที่พวกเขายังคงขึ้นอยู่กับ Ruska ของต้นแบบ [ ต้องการอ้างอิง ]

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM)

"> File:Transmission Electron Microscope operating principle.ogvเล่นสื่อ
หลักการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

รูปแบบดั้งเดิมของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนซึ่งเป็นกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) ใช้ลำแสงอิเล็กตรอนแรงดันสูง เพื่อส่องชิ้นงานและสร้างภาพ ลำแสงอิเล็กตรอนถูกสร้างขึ้นโดยปืนอิเล็กตรอนซึ่งโดยทั่วไปจะมีแคโทดไส้หลอดทังสเตนเป็นแหล่งกำเนิดอิเล็กตรอน ลำแสงอิเล็กตรอนจะถูกเร่งโดยขั้วบวกโดยทั่วไปที่ +100 k eV (40 ถึง 400 keV) สำหรับแคโทดที่โฟกัสโดยเลนส์ไฟฟ้าสถิตและแม่เหล็กไฟฟ้าและส่งผ่านชิ้นงานที่มีบางส่วนโปร่งใสกับอิเล็กตรอนและบางส่วนกระจายพวกมัน ออกจากลำแสง เมื่อมันโผล่ออกมาจากชิ้นงานลำแสงอิเล็กตรอนจะมีข้อมูลเกี่ยวกับโครงสร้างของชิ้นงานที่ขยายโดยระบบเลนส์ใกล้วัตถุของกล้องจุลทรรศน์ การเปลี่ยนแปลงเชิงพื้นที่ในข้อมูลนี้ ( "ภาพ") อาจจะดูได้โดยการฉายภาพอิเล็กตรอนขยายลงบนหน้าจอดูเรืองแสงเคลือบด้วยสารเรืองแสงหรือscintillatorวัสดุเช่นสังกะสีซัลไฟด์ หรืออีกวิธีหนึ่งคือสามารถบันทึกภาพโดยการให้ฟิล์มหรือจานถ่ายภาพสัมผัสกับลำแสงอิเล็กตรอนโดยตรงหรืออาจใช้สารเรืองแสงที่มีความละเอียดสูงร่วมกันโดยใช้ระบบเลนส์ออปติคอลหรือระบบนำแสงใยแก้วนำแสงไปยังเซ็นเซอร์ของดิจิตอล กล้อง ภาพที่กล้องดิจิทัลตรวจพบอาจแสดงบนจอภาพหรือคอมพิวเตอร์

ความละเอียดของ TEM ถูก จำกัด โดยความคลาดทรงกลมเป็นหลักแต่ตัวแก้ไขฮาร์ดแวร์รุ่นใหม่สามารถลดความคลาดทรงกลมเพื่อเพิ่มความละเอียดในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านความละเอียดสูง (HRTEM) ให้ต่ำกว่า 0.5 อังสตรอม (50 พิโคมิเตอร์ ) [1]ทำให้สามารถขยายได้ มากกว่า 50 ล้านครั้ง [10]ความสามารถของ HRTEM ในการกำหนดตำแหน่งของอะตอมภายในวัสดุมีประโยชน์สำหรับการวิจัยและพัฒนาเทคโนโลยีนาโน [11]

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านมักใช้ในโหมดการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน ข้อดีของการเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอนในผลึกเอกซ์เรย์คือชิ้นงานไม่จำเป็นต้องเป็นผลึกเดี่ยวหรือแม้แต่ผงโพลีคริสตัลลีนและการที่ฟูริเยร์เปลี่ยนรูปโครงสร้างขยายของวัตถุเกิดขึ้นทางกายภาพจึงหลีกเลี่ยงความจำเป็นในการแก้ปัญหาเฟสต้องเผชิญกับนักผลึกรังสีเอกซ์หลังจากได้รับรูปแบบการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์

ข้อเสียที่สำคัญอย่างหนึ่งของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านคือความต้องการส่วนที่บางมากของชิ้นงานโดยทั่วไปประมาณ 100 นาโนเมตร การสร้างส่วนบาง ๆ เหล่านี้สำหรับชิ้นงานทางชีววิทยาและวัสดุเป็นเรื่องที่ท้าทายมากในทางเทคนิค เซมิคอนดักเตอร์บางส่วนสามารถทำโดยใช้ลำแสงไอออนที่มุ่งเน้น ตัวอย่างเนื้อเยื่อชีวภาพได้รับการแก้ไขทางเคมีทำให้ขาดน้ำและฝังอยู่ในเรซินโพลีเมอร์เพื่อรักษาเสถียรภาพให้เพียงพอที่จะให้มีการแบ่งส่วนบางเฉียบ ส่วนของตัวอย่างทางชีวภาพโพลีเมอร์อินทรีย์และวัสดุที่คล้ายคลึงกันอาจต้องย้อมสีด้วยฉลากอะตอมที่มีน้ำหนักมากเพื่อให้ได้คอนทราสต์ของภาพที่ต้องการ

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบอนุกรม (ssEM)

การประยุกต์ใช้ TEM อย่างหนึ่งคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบอนุกรม (ssEM) ตัวอย่างเช่นในการวิเคราะห์การเชื่อมต่อในตัวอย่างปริมาตรของเนื้อเยื่อสมองโดยการถ่ายภาพส่วนบาง ๆ หลาย ๆ ส่วนตามลำดับ [12]

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

"> File:Scanning Electron Microscope.ogvเล่นสื่อ
หลักการทำงานของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
ภาพของ Bacillus subtilisถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในปี 1960

SEM สร้างภาพโดยการตรวจสอบชิ้นงานด้วยลำแสงอิเล็กตรอนแบบโฟกัสที่สแกนผ่านพื้นที่สี่เหลี่ยมของชิ้นงานทดสอบ ( การสแกนแรสเตอร์ ) เมื่อลำแสงอิเล็กตรอนทำปฏิกิริยากับชิ้นงานจะสูญเสียพลังงานโดยกลไกต่างๆ พลังงานที่สูญเสียไปจะถูกแปลงเป็นรูปแบบอื่นเช่นความร้อนการปล่อยอิเล็กตรอนทุติยภูมิพลังงานต่ำและอิเล็กตรอนที่มีการแผ่รังสีพลังงานสูงการปล่อยแสง ( cathodoluminescence ) หรือการแผ่รังสีเอ็กซ์เรย์ซึ่งทั้งหมดนี้ให้สัญญาณที่มีข้อมูลเกี่ยวกับคุณสมบัติของชิ้นงาน พื้นผิวเช่นลักษณะภูมิประเทศและองค์ประกอบ ภาพที่แสดงโดย SEM จะจับคู่ความเข้มที่แตกต่างกันของสัญญาณเหล่านี้ลงในภาพในตำแหน่งที่สอดคล้องกับตำแหน่งของลำแสงบนชิ้นงานเมื่อสัญญาณถูกสร้างขึ้น ในภาพ SEM ของมดที่แสดงด้านล่างและทางด้านขวาภาพถูกสร้างขึ้นจากสัญญาณที่ผลิตโดยเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนทุติยภูมิโหมดถ่ายภาพปกติหรือธรรมดาใน SEM ส่วนใหญ่

โดยทั่วไปความละเอียดภาพของ SEM จะต่ำกว่า TEM อย่างไรก็ตามเนื่องจาก SEM แสดงภาพพื้นผิวของตัวอย่างแทนที่จะเป็นภาพภายในอิเล็กตรอนจึงไม่จำเป็นต้องเดินทางผ่านตัวอย่าง ซึ่งจะช่วยลดความจำเป็นในการเตรียมตัวอย่างที่กว้างขวางเพื่อทำให้ชิ้นงานมีความโปร่งใสของอิเล็กตรอน SEM สามารถสร้างภาพตัวอย่างจำนวนมากที่สามารถวางบนพื้นที่งานและยังคงหลบหลีกได้รวมถึงความสูงที่น้อยกว่าระยะการทำงานที่ใช้บ่อยคือ 4 มิลลิเมตรสำหรับภาพที่มีความละเอียดสูง SEM ยังมีระยะชัดลึกที่ดีและสามารถสร้างภาพที่แสดงถึงรูปร่างพื้นผิวสามมิติของตัวอย่างได้ดี ข้อดีอีกประการหนึ่งของ SEM มาพร้อมกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อม (ESEM) ที่สามารถสร้างภาพที่มีคุณภาพและความละเอียดที่ดีด้วยตัวอย่างที่มีไฮเดรตหรือในระดับต่ำแทนที่จะเป็นสุญญากาศสูงหรือภายใต้ก๊าซภายในห้อง สิ่งนี้ช่วยอำนวยความสะดวกในการถ่ายภาพตัวอย่างทางชีววิทยาที่ไม่คงที่ซึ่งไม่เสถียรในสุญญากาศระดับสูงของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบเดิม

ภาพ มดในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสะท้อนแสง (REM)

ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสะท้อน (REM) เช่นเดียวกับใน TEM ลำแสงอิเล็กตรอนจะตกกระทบบนพื้นผิว แต่แทนที่จะใช้การส่งผ่าน (TEM) หรืออิเล็กตรอนทุติยภูมิ (SEM) จะตรวจพบลำแสงสะท้อนของอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจายอย่างยืดหยุ่น เทคนิคนี้มักจะเป็นคู่กับเลนส์สะท้อนพลังงานสูงอิเล็กตรอน (RHEED) และสเปคโทรสะท้อนการสูญเสียพลังงานสูง (RHELS) [ ต้องการอ้างอิง ]การเปลี่ยนแปลงอีกประการหนึ่งคือการใช้กล้องจุลทรรศน์หมุนขั้วพลังงานต่ำอิเล็กตรอน ( SPLEEM ) ซึ่งจะใช้สำหรับการมองหาที่จุลภาคของโดเมนแม่เหล็ก [13]

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (STEM)

STEM แรสเตอร์หัววัดเหตุการณ์แบบโฟกัสบนชิ้นงานที่ (เช่นเดียวกับ TEM) ถูกทำให้บางลงเพื่อให้สามารถตรวจจับอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจายผ่านชิ้นงานได้ ความละเอียดสูงของ TEM จึงเป็นไปได้ใน STEM การโฟกัส (และความคลาด) เกิดขึ้นก่อนที่อิเล็กตรอนจะชนชิ้นงานใน STEM แต่หลังจากนั้นใน TEM การใช้ STEM ของการตรวจจับลำแสงที่มีลักษณะคล้าย SEM ช่วยลดความยุ่งยากในการถ่ายภาพในสนามมืดแบบวงแหวนและเทคนิคการวิเคราะห์อื่น ๆ แต่ยังหมายความว่าข้อมูลภาพจะได้มาในรูปแบบอนุกรมแทนที่จะเป็นแบบขนาน บ่อยครั้งที่ TEM สามารถติดตั้งตัวเลือกการสแกนจากนั้นจึงสามารถทำงานได้ทั้งแบบ TEM และ STEM

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบอุโมงค์ (STM)

ใน STM ปลายนำไฟฟ้าที่ถือด้วยแรงดันไฟฟ้าจะถูกนำมาใกล้พื้นผิวและสามารถหาโปรไฟล์ได้ตามความน่าจะเป็นในการขุดอุโมงค์ของอิเล็กตรอนจากปลายไปยังตัวอย่างเนื่องจากเป็นฟังก์ชันของระยะทาง

ในการกำหนดค่าที่พบมากที่สุดของพวกเขาอิเล็กตรอนไมโครสโคปผลิตภาพที่มีค่าความสว่างเดียวต่อพิกเซลกับผลลัพธ์ที่ได้มักจะแสดงผลในเฉดสีเทา [14]อย่างไรก็ตามบ่อยครั้งที่ภาพเหล่านี้ถูกทำให้เป็นสีโดยใช้ซอฟต์แวร์ตรวจจับคุณลักษณะหรือเพียงแค่แก้ไขด้วยมือโดยใช้โปรแกรมแก้ไขกราฟิก สิ่งนี้อาจทำได้เพื่อชี้แจงโครงสร้างหรือเพื่อความสวยงามและโดยทั่วไปจะไม่เพิ่มข้อมูลใหม่เกี่ยวกับชิ้นงานทดสอบ [15]

ในการกำหนดค่าบางอย่างข้อมูลเกี่ยวกับคุณสมบัติของชิ้นงานทดสอบหลายรายการจะถูกรวบรวมต่อพิกเซลโดยปกติจะใช้เครื่องตรวจจับหลายตัว [16]ใน SEM คุณลักษณะของลักษณะภูมิประเทศและความเปรียบต่างของวัสดุสามารถหาได้จากเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนแบบย้อนแสงคู่หนึ่งและคุณลักษณะดังกล่าวสามารถซ้อนทับในภาพสีเดียวได้โดยการกำหนดสีหลักที่แตกต่างกันให้กับแต่ละแอตทริบิวต์ [17]ในทำนองเดียวกันการรวมกันของสัญญาณอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจายและทุติยภูมิสามารถกำหนดให้เป็นสีที่ต่างกันและซ้อนทับบนบอร์ดสีเดียวที่แสดงคุณสมบัติของชิ้นงานพร้อมกัน [18]

เครื่องตรวจจับบางประเภทที่ใช้ใน SEM มีความสามารถในการวิเคราะห์และสามารถให้ข้อมูลหลายรายการในแต่ละพิกเซล ตัวอย่าง ได้แก่เครื่องตรวจจับรังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน (EDS) ที่ใช้ในการวิเคราะห์องค์ประกอบและระบบกล้องจุลทรรศน์ cathodoluminescence (CL) ที่วิเคราะห์ความเข้มและสเปกตรัมของการเรืองแสงที่เกิดจากอิเล็กตรอนในตัวอย่างทางธรณีวิทยา (เช่น) ในระบบ SEM ที่ใช้เครื่องตรวจจับเหล่านี้เป็นเรื่องปกติที่จะใช้รหัสสีของสัญญาณและวางซ้อนไว้ในภาพสีเดียวเพื่อให้สามารถมองเห็นความแตกต่างในการกระจายของส่วนประกอบต่างๆของชิ้นงานทดสอบได้อย่างชัดเจนและเปรียบเทียบได้ อีกทางเลือกหนึ่งภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิมาตรฐานสามารถรวมเข้ากับแชนเนลองค์ประกอบหนึ่งหรือหลายช่องเพื่อให้สามารถเปรียบเทียบโครงสร้างและองค์ประกอบของชิ้นงานได้ ภาพดังกล่าวสามารถทำได้โดยที่ยังคงความสมบูรณ์ของสัญญาณต้นฉบับซึ่งไม่มีการแก้ไข แต่อย่างใด

แมลงที่ เคลือบด้วยทองคำเพื่อดูด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด

วัสดุที่จะดูภายใต้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนอาจต้องมีการประมวลผลเพื่อให้ได้ตัวอย่างที่เหมาะสม เทคนิคที่ต้องการแตกต่างกันไปขึ้นอยู่กับชิ้นงานและการวิเคราะห์ที่ต้องการ:

  • สารเคมีในการตรึง - สำหรับตัวอย่างทางชีวภาพมีจุดมุ่งหมายเพื่อรักษาเสถียรภาพของโครงสร้างโมเลกุลของชิ้นงานโทรศัพท์มือถือโดยการเชื่อมขวางทางเคมีของโปรตีนที่มีลดีไฮด์เช่นฟอร์มาลดีไฮด์และglutaraldehydeและไขมันกับออสเมียม tetroxide
  • คราบลบ - สารแขวนลอยที่มีอนุภาคนาโนหรือวัสดุชีวภาพชั้นดี (เช่นไวรัสและแบคทีเรีย) ถูกผสมสั้น ๆ กับสารละลายที่เจือจางของอิเล็กตรอน - ทึบแสงเช่นแอมโมเนียมโมลิบเดตยูรานิลอะซิเตท (หรือรูปแบบ) หรือกรดฟอสโฟทังติก ส่วนผสมนี้ถูกนำไปใช้กับตะแกรง EM ที่เคลือบอย่างเหมาะสมแล้วปล่อยให้แห้ง การดูการเตรียมการนี้ใน TEM ควรดำเนินการโดยไม่ชักช้าเพื่อผลลัพธ์ที่ดีที่สุด วิธีนี้มีความสำคัญในทางจุลชีววิทยาสำหรับการระบุลักษณะทางสัณฐานวิทยาที่รวดเร็ว แต่ยังหยาบ แต่ยังสามารถใช้เป็นพื้นฐานสำหรับการสร้างภาพ 3 มิติที่มีความละเอียดสูงโดยใช้วิธีการเอกซเรย์ EM เมื่อใช้ฟิล์มคาร์บอนเพื่อรองรับ การย้อมสีเชิงลบยังใช้สำหรับการสังเกตอนุภาคนาโน
  • Cryofixation - แช่แข็งตัวอย่างอย่างรวดเร็วดังนั้นในของเหลวก๊าซอีเทนที่รูปแบบน้ำน้ำเลี้ยง (ไม่เป็นผลึก) น้ำแข็ง สิ่งนี้จะเก็บรักษาชิ้นงานทดสอบในสแนปชอตของสถานะการแก้ปัญหา ทั้งเขตข้อมูลที่เรียกว่ากล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบไครโอได้แตกแขนงมาจากเทคนิคนี้ ด้วยการพัฒนากล้องจุลทรรศน์แบบ cryo-electronของส่วนน้ำเลี้ยง (CEMOVIS) ทำให้สามารถสังเกตตัวอย่างจากตัวอย่างทางชีววิทยาเกือบทุกชนิดที่ใกล้เคียงกับสภาพดั้งเดิม [ ต้องการอ้างอิง ]
  • การคายน้ำ - หรือการเปลี่ยนน้ำด้วยตัวทำละลายอินทรีย์เช่นเอทานอลหรืออะซิโตนตามด้วยการทำให้แห้งแบบจุดวิกฤตหรือการแทรกซึมด้วยเรซินที่ฝังอยู่ ยังทำให้แห้งอีกด้วย
  • การฝังตัวอย่างทางชีววิทยา - หลังจากการคายน้ำเนื้อเยื่อสำหรับการสังเกตในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านจะถูกฝังไว้เพื่อให้สามารถแบ่งส่วนได้พร้อมสำหรับการดู การทำเช่นนี้เนื้อเยื่อถูกส่งผ่าน 'การเปลี่ยนแปลงตัวทำละลายเช่นโพรพิลีนออกไซด์ (epoxypropane) หรืออะซิโตนแล้วแทรกซึมกับอีพ็อกซี่ เรซิ่นเช่นAraldite , เพ่หรือDurcupan ; [19]เนื้อเยื่อก็อาจจะฝังโดยตรงในน้ำละลายเรซินอะคริลิ หลังจากเรซินได้รับการโพลีเมอไรซ์ (ชุบแข็ง) แล้วตัวอย่างจะถูกแบ่งส่วนบาง ๆ (ส่วนบางเฉียบ) และย้อมสี - จากนั้นก็พร้อมสำหรับการดู
  • การฝังวัสดุ - หลังจากฝังในเรซินแล้วชิ้นงานมักจะถูกบดและขัดให้เป็นกระจกโดยใช้สารกัดกร่อนที่มีความละเอียดเป็นพิเศษ ขั้นตอนการขัดจะต้องดำเนินการอย่างระมัดระวังเพื่อลดรอยขีดข่วนและสิ่งประดิษฐ์อื่น ๆ ที่ทำให้คุณภาพของภาพลดลง
  • การขัดเงาโลหะ - โลหะ (เช่นทองคำขาว ) ระเหยจากอิเล็กโทรดเหนือศีรษะและนำไปใช้กับพื้นผิวของตัวอย่างทางชีววิทยาที่มุม [20]ลักษณะภูมิประเทศของพื้นผิวทำให้เกิดการเปลี่ยนแปลงความหนาของโลหะที่เห็นได้จากการเปลี่ยนแปลงของความสว่างและความคมชัดในภาพจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • การจำลองแบบ - พื้นผิวที่เคลือบด้วยโลหะ (เช่นทองคำขาวหรือส่วนผสมของคาร์บอนและทองคำขาว) ที่มุมเคลือบด้วยคาร์บอนบริสุทธิ์ที่ระเหยจากขั้วไฟฟ้าคาร์บอนที่มุมฉากกับพื้นผิว ตามด้วยการกำจัดวัสดุตัวอย่าง (เช่นในอ่างกรดโดยใช้เอนไซม์หรือการแยกทางกล[21] ) เพื่อสร้างแบบจำลองพื้นผิวที่บันทึกโครงสร้างพิเศษของพื้นผิวและสามารถตรวจสอบได้โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
  • การแบ่งส่วน - สร้างชิ้นงานบาง ๆ ของชิ้นงานกึ่งโปร่งใสต่ออิเล็กตรอน สิ่งเหล่านี้สามารถตัดบนultramicrotomeด้วยแก้วหรือมีดเพชรเพื่อผลิตส่วนที่บางเฉียบหนาประมาณ 60–90 นาโนเมตร นอกจากนี้ยังใช้มีดแก้วแบบใช้แล้วทิ้งเนื่องจากสามารถทำในห้องแล็บและมีราคาถูกกว่ามาก
  • การย้อมสี - ใช้โลหะหนักเช่นตะกั่ว ,ยูเรเนียมหรือทังสเตนอิเล็กตรอนถ่ายภาพกระจายจึงให้ความแตกต่างระหว่างโครงสร้างที่แตกต่างกันตั้งแต่หลายคน (โดยเฉพาะอย่างยิ่งทางชีวภาพ) วัสดุเกือบ "โปร่งใส" เพื่ออิเล็กตรอน (วัตถุเฟสอ่อน) ในทางชีววิทยาชิ้นงานทดสอบสามารถย้อมสี "en bloc" ได้ก่อนที่จะฝังและในภายหลังหลังจากการแบ่งส่วน โดยทั่วไปส่วนที่บางจะถูกย้อมสีเป็นเวลาหลายนาทีด้วยสารละลาย uranyl acetate ที่เป็นน้ำหรือแอลกอฮอล์ตามด้วยตะกั่วซิเตรตในน้ำ [22]
  • Freeze-fracture หรือ freeze-etch - วิธีการเตรียม[23] [24] [25]มีประโยชน์อย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบเยื่อหุ้มไขมันและโปรตีนที่รวมอยู่ในมุมมอง "หันหน้าเข้าหา" [26] [27] [28]
    Freeze-Fracturing ช่วยลอกเยื่อที่เปิดออกเพื่อให้มองเห็นสิ่งที่อยู่ข้างใน
    ใบหน้าภายนอกของเยื่อหุ้มยีสต์ขนมปังแสดงให้เห็นรูเล็ก ๆ ที่โปรตีนแตกออกบางครั้งเป็นรูปวงแหวนขนาดเล็ก
    เนื้อเยื่อสดหรือสารแขวนลอยของเซลล์จะถูกแช่แข็งอย่างรวดเร็ว (cryofixation) จากนั้นแตกหักโดยการทำลาย[29] (หรือโดยใช้ไมโครโตม) [28]ในขณะที่เก็บรักษาที่อุณหภูมิไนโตรเจนเหลว พื้นผิวร้าวเย็น (บางครั้ง "แกะสลัก" โดยการเพิ่มอุณหภูมิเป็นประมาณ −100 ° C เป็นเวลาหลายนาทีเพื่อให้น้ำแข็งบางส่วนละเอียด) [28]จากนั้นจะถูกเงาด้วยแพลตตินั่มหรือทองคำที่ระเหยที่มุมเฉลี่ย 45 °ในสุญญากาศสูง เครื่องระเหย. เคลือบคาร์บอนชั้นที่สองซึ่งระเหยในแนวตั้งฉากกับระนาบพื้นผิวโดยเฉลี่ยมักจะทำเพื่อปรับปรุงเสถียรภาพของการเคลือบแบบจำลอง ตัวอย่างจะถูกส่งกลับไปที่อุณหภูมิห้องและความดันจากนั้นแบบจำลองโลหะ "ก่อนเงา" ที่เปราะบางมากของพื้นผิวที่แตกหักจะถูกปล่อยออกจากวัสดุชีวภาพที่อยู่เบื้องหลังโดยการย่อยทางเคมีอย่างระมัดระวังด้วยกรดสารละลายไฮโปคลอไรท์หรือผงซักฟอกSDS แบบจำลองลอยน้ำได้รับการล้างให้สะอาดปราศจากสารเคมีตกค้างทอดอย่างระมัดระวังบนตะแกรงละเอียดจากนั้นนำไปตากให้แห้งแล้วดูใน TEM
  • การติดฉลากอิมมูโนโกลด์แบบจำลองการแตกหักแบบเยือกแข็ง (FRIL) - วิธีการแตกหักแบบตรึงได้รับการแก้ไขเพื่อให้สามารถระบุส่วนประกอบของใบหน้าที่แตกหักได้โดยการติดฉลากอิมมูโนโกลด์ แทนที่จะเอาเนื้อเยื่อต้นแบบทั้งหมดที่ละลายแล้วออกเป็นขั้นตอนสุดท้ายก่อนที่จะดูในกล้องจุลทรรศน์ความหนาของเนื้อเยื่อจะลดลงในระหว่างหรือหลังกระบวนการแตกหัก ชั้นของเนื้อเยื่อบาง ๆ ยังคงถูกผูกติดกับแบบจำลองโลหะดังนั้นจึงสามารถติดป้ายอิมมูโนโกลด์ที่มีแอนติบอดีต่อโครงสร้างที่เลือกได้ ชั้นบาง ๆ ของชิ้นงานดั้งเดิมบนแบบจำลองที่มีทองคำติดอยู่ช่วยให้สามารถระบุโครงสร้างในระนาบการแตกหักได้ [30]นอกจากนี้ยังมีวิธีการที่เกี่ยวข้องซึ่งติดฉลากที่พื้นผิวของเซลล์ที่สลัก[31]และรูปแบบการติดฉลากแบบจำลองอื่น ๆ [32]
  • การมิลลิ่งด้วยลำแสงไอออน - ทำให้ตัวอย่างบางลงจนกว่าพวกมันจะโปร่งใสกับอิเล็กตรอนโดยการยิงไอออน (โดยทั่วไปคืออาร์กอน ) ที่พื้นผิวจากมุมและสปัตเตอริ่งวัสดุจากพื้นผิว คลาสย่อยของสิ่งนี้คือการกัดลำแสงไอออนแบบเน้นซึ่งแกลเลียมไอออนถูกใช้เพื่อสร้างเมมเบรนโปร่งใสของอิเล็กตรอนในพื้นที่เฉพาะของตัวอย่างเช่นผ่านอุปกรณ์ภายในไมโครโปรเซสเซอร์ นอกจากนี้ยังอาจใช้การกัดลำแสงไอออนสำหรับการขัดหน้าตัดก่อนการวิเคราะห์ SEM ของวัสดุที่ยากต่อการเตรียมโดยใช้การขัดเชิงกล
  • การเคลือบนำไฟฟ้า - การเคลือบบางพิเศษของวัสดุที่นำไฟฟ้าโดยการระเหยของสูญญากาศสูงหรือโดยการเคลือบสปัตเตอร์สูญญากาศต่ำของตัวอย่าง สิ่งนี้ทำเพื่อป้องกันการสะสมของสนามไฟฟ้าสถิตที่ชิ้นงานเนื่องจากการฉายรังสีอิเล็กตรอนที่จำเป็นในระหว่างการถ่ายภาพ วัสดุเคลือบ ได้แก่ ทองทอง / แพลเลเดียมแพลทินัมทังสเตนกราไฟต์ ฯลฯ
  • การต่อสายดิน - เพื่อหลีกเลี่ยงการสะสมประจุไฟฟ้าบนตัวอย่างที่เคลือบด้วยสื่อกระแสไฟฟ้าโดยปกติจะเชื่อมต่อด้วยไฟฟ้ากับที่ยึดตัวอย่างโลหะ มักใช้กาวที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าเพื่อจุดประสงค์นี้

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านและแบบส่องกราดของJEOLผลิตในกลางทศวรรษ 1970

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนมีราคาแพงในการสร้างและบำรุงรักษา แต่ทุนและค่าใช้จ่ายในการดำเนินการของระบบกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงคอนโฟคอลนั้นทับซ้อนกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพื้นฐาน กล้องจุลทรรศน์ที่ออกแบบมาเพื่อให้ได้ความละเอียดสูงจะต้องอยู่ในอาคารที่มั่นคง (บางครั้งอยู่ใต้ดิน) พร้อมบริการพิเศษเช่นระบบยกเลิกสนามแม่เหล็ก

ตัวอย่างส่วนใหญ่ต้องดูในสุญญากาศเนื่องจากโมเลกุลที่ประกอบขึ้นเป็นอากาศจะกระจายอิเล็กตรอน ข้อยกเว้นคือกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบเฟสของเหลว [33]โดยใช้เซลล์ของเหลวปิดหรือห้องสิ่งแวดล้อมตัวอย่างเช่นในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อมซึ่งช่วยให้สามารถดูตัวอย่างไฮเดรตได้ในความดันต่ำ (ไม่เกิน 20  Torrหรือ 2.7 kPa) สภาพแวดล้อมที่เปียก เทคนิคต่างๆสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในแหล่งกำเนิดของตัวอย่างก๊าซได้รับการพัฒนาเช่นกัน [34]

การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่ทำงานในโหมดสุญญากาศสูงธรรมดาโดยปกติจะเป็นภาพตัวอย่างที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า ดังนั้นวัสดุที่ไม่นำไฟฟ้าจึงจำเป็นต้องมีการเคลือบที่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้า (โลหะผสมทอง / แพลเลเดียมคาร์บอนออสเมียม ฯลฯ ) โหมดแรงดันไฟฟ้าต่ำของกล้องจุลทรรศน์สมัยใหม่ทำให้สามารถสังเกตชิ้นงานที่ไม่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าได้โดยไม่ต้องเคลือบ วัสดุที่ไม่เป็นสื่อกระแสไฟฟ้าสามารถถ่ายภาพได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดความดันแปรผัน (หรือสิ่งแวดล้อม)

ขนาดเล็กที่มีความเสถียรตัวอย่างเช่นท่อนาโนคาร์บอน , ไดอะตอม frustules และผลึกแร่ขนาดเล็ก (เส้นใยแร่ใยหินเป็นต้น) ไม่จำเป็นต้องมีการดูแลเป็นพิเศษก่อนที่จะถูกตรวจสอบในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ตัวอย่างของวัสดุที่ให้ความชุ่มชื้นรวมถึงตัวอย่างทางชีววิทยาเกือบทั้งหมดจะต้องเตรียมด้วยวิธีต่างๆเพื่อทำให้คงตัวลดความหนาลง (การแบ่งส่วนบางเฉียบ) และเพิ่มความเปรียบต่างทางแสงของอิเล็กตรอน (การย้อมสี) กระบวนการเหล่านี้อาจทำให้เกิดสิ่งประดิษฐ์แต่โดยปกติแล้วสามารถระบุได้โดยการเปรียบเทียบผลที่ได้รับโดยใช้วิธีการเตรียมชิ้นงานที่แตกต่างกันอย่างสิ้นเชิง ตั้งแต่ทศวรรษที่ 1980 เป็นต้นมาการวิเคราะห์ตัวอย่างที่ผ่านการแช่แข็งและ vitrified ก็ถูกนำมาใช้มากขึ้นโดยนักวิทยาศาสตร์เพื่อยืนยันความถูกต้องของเทคนิคนี้ [35] [36] [37]

  • คำย่อในกล้องจุลทรรศน์
  • การเลี้ยวเบนของอิเล็กตรอน
  • สเปกโทรสโกปีการสูญเสียพลังงานอิเล็กตรอน (EELS)
  • ภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านกรองพลังงาน (EFTEM)
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อม (ESEM)
  • กล้องจุลทรรศน์แบบปล่อยแสงภาคสนาม
  • สวัสดี
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนภูมิคุ้มกัน
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในแหล่งกำเนิด
  • การประมวลผลภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์
  • กล้องจุลทรรศน์
  • นาโนศาสตร์
  • นาโนเทคโนโลยี
  • กล้องจุลทรรศน์นิวตรอน
  • กล้องจุลทรรศน์ควอนตัม
  • การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบคอนโฟคอล
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
  • การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบเจาะอุโมงค์
  • วิทยาศาสตร์พื้นผิว
  • กล้องจุลทรรศน์ที่แก้ไขความคลาดเคลื่อนของอิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
  • การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์
  • กล้องจุลทรรศน์ X-ray
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนพลังงานต่ำ
  • เครื่องวิเคราะห์พลังงานอิเล็กตรอนแบบครึ่งวงกลม

  1. ^ a b เออร์นีรอล์ฟ; รอสเซล, MD; Kisielowski, C; Dahmen, U (2009). "Atomic-Resolution Imaging with a Sub-50-pm Electron Probe" . ทางกายภาพจดหมายรีวิว 102 (9): 096101. Bibcode : 2009PhRvL.102i6101E . ดอย : 10.1103 / PhysRevLett.102.096101 . PMID  19392535
  2. ^ Dannen ยีน (1998)ลีโอซิลาร์ดนักประดิษฐ์นี้: สไลด์โชว์ (1998, บูดาเปสต์ประชุมพูดคุย) dannen.com
  3. ^ Mathys ดาเนียล Zentrum für Mikroskopie,มหาวิทยาลัยบาเซิล : Die Entwicklung เดอร์ Elektronenmikroskopie วอม Bild überตายวิเคราะห์ zum Nanolaborพี 8
  4. ^ ก ข ค รุสก้า, เอิร์นส์ (1986). "อัตชีวประวัติของเอิร์นส์รุสก้า" . มูลนิธิโนเบล. สืบค้นเมื่อ2010-01-31 .
  5. ^ รูเดนเบิร์ก, เอช. กุนเธอร์; Rudenberg, Paul G. (2010). "ที่มาและความเป็นมาของการประดิษฐ์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน". ความก้าวหน้าในการถ่ายภาพและอิเลคตรอนฟิสิกส์ 160 . หน้า 207–286 ดอย : 10.1016 / S1076-5670 (10) 60006-7 . ISBN 978-0-12-381017-5.
  6. ^ ครูเกอร์, DH; ชเนค, พี; Gelderblom, HR (พฤษภาคม 2543) "Helmut Ruska และการสร้างภาพของไวรัส". มีดหมอ . 355 (9216): 1713–1717 ดอย : 10.1016 / S0140-6736 (00) 02250-9 . PMID  10905259 S2CID  12347337
  7. ^ อาร์เดน, เอ็มฟอน; Beischer, D. (2483). "Untersuchung von Metalloxyd-Rauchen mit dem Universal-Elektronenmikroskop" [การตรวจสอบการสูบโลหะออกไซด์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสากล]. Zeitschrift für Elektrochemie und Angewandte Physikalische Chemie (in เยอรมัน). 46 (4): 270–277 ดอย : 10.1002 / bbpc.19400460406 (inactive 2021-01-18).CS1 maint: DOI ไม่มีการใช้งานในเดือนมกราคม 2021 ( ลิงค์ )
  8. ^ ประวัติของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน 1931-2000 Authors.library.caltech.edu (2002-12-10). สืบค้นเมื่อ 2017-04-29.
  9. ^ "เจมส์ฮิลลิเยร์" . ประดิษฐ์ของสัปดาห์: เอกสารเก่า พ.ศ. 2546-05-01. สืบค้นจากต้นฉบับเมื่อ 2003-08-23 . สืบค้นเมื่อ2010-01-31 .
  10. ^ "ขนาดของสิ่งต่างๆ" . สำนักงานวิทยาศาสตร์พลังงานขั้นพื้นฐานกระทรวงพลังงานสหรัฐอเมริกา 2549-05-26. สืบค้นจากต้นฉบับเมื่อ 2010-02-01 . สืบค้นเมื่อ2010-01-31 .
  11. ^ โอคีเฟ MA; อัลลาร์ด LF (2004-01-18). "Sub-Ångstrom Electron Microscopy for Sub-Ångstrom Nano-Metrology" (PDF) . สะพานข้อมูล: DOE ข้อมูลทางวิทยาศาสตร์และเทคนิค - สนับสนุนโดย OSTI อ้างถึงวารสารต้องการ|journal=( ความช่วยเหลือ )
  12. ^ Yoo, Inwan, David GC Hildebrand, Willie F. Tobin, Wei-Chung Allen Lee และ Won-Ki Jeong "ssEMnet: การลงทะเบียนภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบอนุกรมโดยใช้เครือข่าย Spatial Transformer พร้อมคุณลักษณะที่เรียนรู้" In Deep Learning in Medical Image Analysis and Multimodal Learning for Clinical Decision Support, หน้า 249-257 สปริงเกอร์จาม 2560.
  13. ^ "SPLEEM" . ศูนย์แห่งชาติสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (NCEM) สืบค้นจากต้นฉบับเมื่อ 2010-05-29 . สืบค้นเมื่อ2010-01-31 .
  14. ^ เบอร์เจสเจเรมี (1987) ภายใต้กล้องจุลทรรศน์: เป็นโลกที่ซ่อนเปิดเผย ที่เก็บถ้วย น. 11. ISBN 978-0-521-39940-1.
  15. ^ "ความรู้เบื้องต้นเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน" (PDF) . บริษัท FEI. น. 15 . สืบค้นเมื่อ12 ธันวาคม 2555 .
  16. ^ Antonovsky, A. (1984). "การประยุกต์ใช้สีกับการสร้างภาพกึ่งเพื่อเพิ่มความคมชัด". Micron และ Microscopica Acta . 15 (2): 77–84. ดอย : 10.1016 / 0739-6260 (84) 90005-4 .
  17. ^ Danilatos, GD (1986). "บอร์ดสีสำหรับสัญญาณอิเล็กตรอนที่กระจัดกระจายใน SEM" การสแกน 9 (3): 8–18. ดอย : 10.1111 / j.1365-2818.1986.tb04287.x . S2CID  96315383
  18. ^ Danilatos, GD (1986). "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดสิ่งแวดล้อมเป็นสี" . วารสารจุลทรรศน์ . 142 : 317–325 ดอย : 10.1002 / sca.4950080104 .
  19. ^ Luft, JH (2504). "การปรับปรุงวิธีการฝังอีพอกซีเรซิน". วารสารเซลล์วิทยาทางชีวฟิสิกส์และชีวเคมี . 9 (2). น. 409. พีเอ็ม ซี 2224998 . PMID  13764136
  20. ^ วิลเลียมส์ RC; Wyckoff, RW (2488-06-08). "จุลภาคเงาอิเล็กตรอนของโปรตีนไวรัสโมเสคยาสูบ". วิทยาศาสตร์ . 101 (2632): 594–596 รหัสไปรษณีย์ : 1945Sci ... 101..594W . ดอย : 10.1126 / science.101.2632.594 . PMID  17739444 . S2CID  44930705
  21. ^ จูนิเปอร์ พ.ศ. ; แบรดลีย์, เดลาแวร์ (2501). "เทคนิคการจำลองคาร์บอนในการศึกษาโครงสร้างพิเศษของพื้นผิวใบไม้" วารสารวิจัยโครงสร้างพิเศษ. 2 (1): 16–27. ดอย : 10.1016 / s0022-5320 (58) 90045-5 .
  22. ^ เรย์โนลด์, ES (2506) "การใช้ตะกั่วซิเตรตที่ pH สูงเป็นคราบอิเล็กตรอนทึบแสงในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน" . วารสารชีววิทยาของเซลล์ . 17 : 208–212 ดอย : 10.1083 / jcb.17.1.208 . PMC  2106263 PMID  13986422
  23. ^ Meryman HT และ Kafig อี (1955) การศึกษาตัวอย่างแช่แข็งผลึกน้ำแข็งและการเติบโตของผลึกน้ำแข็งด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ทหารเรือ Res. Ints. Rept NM 000 018.01.09 ฉบับที่ 13 น. 529–544
  24. ^ Steere, รัสเซลแอล. (2500-01-25). "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของรายละเอียดโครงสร้างในตัวอย่างทางชีววิทยาแช่แข็ง" . วารสารเซลล์วิทยาทางชีวฟิสิกส์และชีวเคมี . 3 (1): 45–60. ดอย : 10.1083 / jcb.3.1.45 . PMC  2224015 . PMID  13416310
  25. ^ Isailović, Tanja M.; Todosijević, Marija N.; Đorđević, Sanela M.; Savić, Snezana D. (2017/01/01) Čalija, Bojan (Ed.), "บทที่ 7 - ลดแรงตึงผิวตามธรรมชาติระบบ Micro / nanoemulsion สำหรับ NSAIDs-ปฏิบัติวิธีสูตรทางเคมีกายภาพและชีวภาพและการแยกลักษณะ / การแสดง" , Microsized และ Nanosized Carriers for Nonsteroidal Anti-Inflammatory Drugs , Boston: Academic Press, pp. 179–217, doi : 10.1016 / b978-0-12-804017-1.00007-8 , ISBN 978-0-12-804017-1, สืบค้นเมื่อ2020-10-22
  26. ^ Moor H, Mühlethaler K (2506). "โครงสร้างที่ดีในเซลล์ยีสต์ที่ฝังตัวแช่แข็ง" . วารสารชีววิทยาของเซลล์ . 17 (3): 609–628 ดอย : 10.1083 / jcb.17.3.609 . PMC  2106217 . PMID  19866628
  27. ^ Black, Joel A. (1990-01-01), Conn, P. Michael (ed.), "[20] - Use of Freeze-Fracture in Neurobiology" , Methods in Neurosciences , Quantitative and Qualitative Microscopy, Academic Press, 3 , pp. 343–360, ดอย : 10.1016 / b978-0-12-185255-9.50025-0 , สืบค้นเมื่อ2020-10-22
  28. ^ ก ข ค Stillwell, William (2016-01-01), Stillwell, William (ed.), "บทที่ 11 - คุณสมบัติของเมมเบรนระยะไกล" , บทนำเกี่ยวกับเยื่อชีวภาพ (Second Edition) , Elsevier, หน้า 221–245, ดอย : 10.1016 / b978-0-444-63772-7.00011-7 , ISBN 978-0-444-63772-7, สืบค้นเมื่อ2020-10-22
  29. ^ Bullivant, สแตนลีย์; เอมส์, อเดลเบิร์ต (1966-06-01). "วิธีการจำลองแบบการแตกหักแบบตรึง - แตกหักอย่างง่ายสำหรับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน" . วารสารชีววิทยาของเซลล์ . 29 (3): 435–447 ดอย : 10.1083 / jcb.29.3.435 . PMC  2106967 PMID  5962938
  30. ^ Gruijters, WT; คิสต์เลอร์เจ; Bullivant, S; Goodenough, DA (1987-03-01). "Immunolocalization ของ MP70 เส้นใยเลนส์ 16-17 นาโนเมตรทางแยกระหว่างเซลล์" วารสารชีววิทยาของเซลล์ . 104 (3): 565–572 ดอย : 10.1083 / jcb.104.3.565 . PMC  2114558 . PMID  3818793
  31. ^ ดาซิลวา, เปโดรปินโต; แบรนตัน, แดเนียล (1970-06-01). "การแยกเมมเบรนในการกัดเยือกแข็ง" . วารสารชีววิทยาของเซลล์ . 45 (3): 598–605 ดอย : 10.1083 / jcb.45.3.598 . PMC  2107921 PMID  4918216
  32. ^ ผื่น JE; จอห์นสัน TJ; ฮัดสัน, ซีเอส; กิดดิงส์ FD; เกรแฮม, WF; Eldefrawi, ME (1982-11-01). "เทคนิคการจำลองแบบติดฉลาก: การติดฉลากหลังเงาของอนุภาคภายในเมมเบรนในการจำลองการแตกหักแบบเยือกแข็ง" วารสารจุลทรรศน์ . 128 (ปต 2): 121–138 ดอย : 10.1111 / j.1365-2818.1982.tb00444.x . PMID  6184475 S2CID  45238172
  33. ^ เดอ Jonge, N.; รอสส์เอฟเอ็ม (2554). "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนของสิ่งส่งตรวจในของเหลว". นาโนเทคโนโลยีธรรมชาติ . 6 (8): 695–704 รหัสไปรษณีย์ : 2003NatMa ... 2..532W . ดอย : 10.1038 / nmat944 . PMID  12872162 S2CID  21379512 .
  34. ^ ไก่, PL; Boyes, ED (2009). "ความก้าวหน้าในความละเอียดระดับอะตอมในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่งผ่านสิ่งแวดล้อมและความคลาดเคลื่อน 1A ที่แก้ไขในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนในแหล่งกำเนิด" Microsc โลว์เทค 72 (3): 153–164 arXiv : 1705.05754 ดอย : 10.1002 / jemt.20668 . PMID  19140163 . S2CID  1746538
  35. ^ เอเดรียน, มาร์ค; ดูโบเชต์, ฌาคส์; Lepault, ฌอง; McDowall, Alasdair W. (1984). "กล้องจุลทรรศน์ไครโออิเล็กตรอนของไวรัส" . ธรรมชาติ (ส่งต้นฉบับ) 308 (5954): 32–36. รหัสไปรษณีย์ : 1984Natur.308 ... 32A . ดอย : 10.1038 / 308032a0 . PMID  6322001 S2CID  4319199
  36. ^ สบันเยยครับ.; อารัดท.; ไวเนอร์ส.; ไกเกอร์, บี. (1991). "การศึกษาส่วนของเนื้อเยื่อแช่แข็งที่ไม่มีสีและไม่ย้อมสีโดยกล้องจุลทรรศน์ไครโออิมมูโนอิเลคตรอน" วารสารวิทยาศาสตร์เซลล์ . 100 (1): 227–236 PMID  1795028
  37. ^ กาสะ, ส.; ดูมาส์, ช.; ดีทเลอร์, ช.; Catsicas, S.; เอเดรียน, M. (2003). "Vitrification of cryoelectron microscopy ตัวอย่างที่เปิดเผยโดยการถ่ายภาพความเร็วสูง". วารสารจุลทรรศน์ . 211 (1): 48–53. ดอย : 10.1046 / j.1365-2818.2003.01193.x . PMID  12839550 S2CID  40058086
  38. ^ โบห์มี, L.; เบรสซิน, ม.; บอทแมน, อ.; แรนนีย์เจ.; เฮสติงส์, JT (2015). "ลำแสงอิเล็กตรอนที่ถูกโฟกัสทำให้เกิดการกัดทองแดงในสารละลายกรดซัลฟิวริก" นาโนเทคโนโลยี . 26 (49): 495301. Bibcode : 2015Nanot..26W5301B . ดอย : 10.1088 / 0957-4484 / 26/49/495301 . PMID  26567988
  39. ^ คาเชอร์เจ.; ซีอุยบี; โรเบิร์ตสัน, IM (2015). "ในแหล่งกำเนิดและลักษณะทางเอกซ์เรย์ของความเสียหายและกระบวนการเคลื่อนที่ในโลหะผสมที่ฉายรังสีโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน" วารสารวิจัยวัสดุ . 30 (9): 1202–1213 รหัสไปรษณีย์ : 2015JMatR..30.1202K . ดอย : 10.1557 / jmr.2015.14 .
  40. ^ ไร่อาร์เอส; ซูบรามาเนียน, S. (2009). "บทบาทของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์สำหรับการพัฒนากระบวนการและการวิเคราะห์ความล้มเหลว". ความคืบหน้าในการเจริญเติบโตของคริสตัลและสมบัติของวัสดุ 55 (3–4): 63–97. ดอย : 10.1016 / j.pcrysgrow.2009.09.002 .
  41. ^ มอร์ริส GJ; กู๊ดริช, ม.; แอกตันอี; ฟอนเซกา, F. (2549). "ความหนืดสูงที่พบระหว่างการแช่แข็งในสารละลายกลีเซอรอล: ผลกระทบต่อการเก็บรักษาด้วยความเย็น" Cryobiology 52 (3): 323–334 ดอย : 10.1016 / j.cryobiol.2006.01.003 . PMID  16499898
  42. ^ ก ข ฟอนแอพเพนอเล็กซานเดอร์; Beck, Martin (พ.ค. 2016). "การกำหนดโครงสร้างของนิวเคลียสรูพรุนคอมเพล็กซ์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบไครโอสามมิติ" . วารสารอณูชีววิทยา . 428 (10): 2544–10 ดอย : 10.1016 / j.jmb.2016.01.004 . PMC  4898182 PMID  26791760
  43. ^ ฟลอเรียน, PE; Rouillé, Y.; รุตะ, ส.; นิชิตาน.; โรซานู, อ. (2559). "ความก้าวหน้าล่าสุดในการศึกษาเกี่ยวกับการถ่ายภาพไวรัสในมนุษย์" วารสารจุลชีววิทยาพื้นฐาน . 56 (6): 591–607 ดอย : 10.1002 / jobm.201500575 . PMID  27059598 S2CID  12737742
  44. ^ ก ข Cushnie, TP; โอดริสคอลล์, นิวแฮมป์เชียร์; แลมบ์, AJ (2016). "การเปลี่ยนแปลงทางสัณฐานวิทยาและลักษณะพิเศษของเซลล์แบคทีเรียเพื่อเป็นตัวบ่งชี้กลไกการออกฤทธิ์ต้านเชื้อแบคทีเรีย". วิทยาศาสตร์การดำรงชีวิตของเซลล์และโมเลกุล . 73 (23): 4471–4492 ดอย : 10.1007 / s00018-016-2302-2 . hdl : 10059/2129 . PMID  27392605 S2CID  2065821
  45. ^ Li, M. -H.; หยาง, Y. -Q.; หวงบี; หลัว, X.; จางว.; ฮัน, ม.; รู, J.-G. (2557). "การพัฒนาการตรวจเอกซเรย์อิเล็กตรอนขั้นสูงในวัสดุศาสตร์ตาม TEM และ STEM". ธุรกรรมของโลหะ Nonferrous สังคมของประเทศจีน 24 (10): 3031–3050 ดอย : 10.1016 / S1003-6326 (14) 63441-5 .
  46. ^ หลี่ WJ; Shao, LY; จาง DZ; Ro, จุฬา; หือ, ม.; ไบ, XH; เกิง, H.; มัตสึกิ, อ.; นิว HY; เฉิน, JM (2016). "การทบทวนการศึกษาอนุภาคละอองเดี่ยวในบรรยากาศของเอเชียตะวันออก: สัณฐานวิทยาสถานะการผสมแหล่งที่มาและปฏิกิริยาต่างกัน" วารสารการผลิตที่สะอาดกว่า. 112 (2): 1330–1349 ดอย : 10.1016 / j.jclepro.2015.04.050 .
  47. ^ Sousa, RG; เอสเตเวส, ท.; โรชา, ส.; Figueiredo, F.; เควลฮาสพี; ซิลวา LM (2015). ตรวจสอบอัตโนมัติของอนุภาค immunogold จากภาพกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน การวิเคราะห์และการรับรู้ภาพ เอกสารประกอบการบรรยายสาขาวิทยาการคอมพิวเตอร์. 9164 . หน้า 377–384 ดอย : 10.1007 / 978-3-319-20801-5_41 . ISBN 978-3-319-20800-8.
  48. ^ Perkins, จอร์เจีย (2014) "การใช้ miniSOG ในการแปลโปรตีนไมโตคอนเดรีย" ฟังก์ชั่นยล วิธีการทางเอนไซม์. 547 . หน้า 165–179 ดอย : 10.1016 / B978-0-12-801415-8.00010-2 . ISBN 9780128014158. PMID  25416358 .
  49. ^ เฉิน XD; เร็น LQ; เจิ้งบี; หลิว, H. (2013). "แง่มุมทางฟิสิกส์และวิศวกรรมของระบบถ่ายภาพเซลล์และเนื้อเยื่อ: อุปกรณ์กล้องจุลทรรศน์และคอมพิวเตอร์ช่วยวินิจฉัย". ชีวโฟโตนิกในพยาธิวิทยา: พยาธิวิทยาที่ทางแยก . 185 (Biophotonics in Pathology): 1–22. ดอย : 10.3233 / 978-1-61499-234-9-1 . PMID  23542929
  50. ^ ฟาเกอร์แลนด์, จา; กำแพง HG; แพนเดอร์เค; เลอรอย พ.ศ. ; Gagne, GD (2012). "การวิเคราะห์โครงสร้างพิเศษในการประเมินความปลอดภัยก่อนคลินิก". พยาธิวิทยาทางพิษวิทยา . 40 (2): 391–402 ดอย : 10.1177 / 0192623311430239 . PMID  22215513 . S2CID  206458999
  51. ^ ไฮเดอร์, S.; Metzner, C. (2014). "เวลาจริงการวิเคราะห์เชิงปริมาณอนุภาคเดี่ยวของ virions" ไวรัสวิทยา . 462–463: 199–206 ดอย : 10.1016 / j.virol.2014.06.005 . PMC  4139191 PMID  24999044
  52. ^ Tsekouras, G.; โมเซอร์, AJ; วอลเลซ GG (2008). "เพิ่มประสิทธิภาพการทำงานของเซลล์แสงอาทิตย์ชนิดสีย้อมไวแสงที่ใช้ทองคำ electrodeposit ขั้วเคาน์เตอร์" วารสารสมาคมไฟฟ้าเคมี . 155 (7): K124 – K128 Bibcode : 2008JElS..155K.124T . ดอย : 10.1149 / 1.2919107 .
  53. ^ เบซีเนียส, ป.; พอร์เทล, ช.; Bomans, PHH; Janssen, HM; Palmans, ARA; Meijer, EW (2010). "การควบคุมการเจริญเติบโตและรูปร่างของโพลีเมอร์ chiral supramolecular ในน้ำ" . การดำเนินการของสถาบันวิทยาศาสตร์แห่งชาติของสหรัฐอเมริกา 107 (42): 17888–17893 รหัส : 2010PNAS..10717888B . ดอย : 10.1073 / pnas.1009592107 . PMC  2964246 . PMID  20921365
  54. ^ ฟุรุยะ, K. (2008). "Nanofabrication โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนขั้นสูงโดยใช้ลำแสงที่เข้มข้นและโฟกัส" . วิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีวัสดุขั้นสูง . 9 (1): ข้อ 014110. Bibcode : 2008STAdM ... 9a4110F . ดอย : 10.1088 / 1468-6996 / 9/1/014110 . PMC  5099805 . PMID  27877936
  55. ^ โคซาซิห์, เฟลิกซ์อุทามะ; Ducati, Caterina (พฤษภาคม 2018). "พัฒนาการการเสื่อมสภาพของเซลล์แสงอาทิตย์ perovskite ผ่านในแหล่งกำเนิดและ operando อิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์" นาโนพลังงาน . 47 : 243–256 ดอย : 10.1016 / j.nanoen.2018.02.055 .
  56. ^ มาลอยสจวร์ตเอ; ซอมเมอร์วอลเตอร์เอฟ; เจมส์ไมเคิลอาร์; โรเมโร, โทเบียสเจ.; โลเปซ, มานูเอลอาร์.; ซิมเมอร์มันน์, ยูจีน; Ledbetter, James M. (13 พฤษภาคม 2017). "โปรแกรมการทดสอบการผลิตวัสดุไตรเทียมแบบเร่งการผลิต". เทคโนโลยีนิวเคลียร์ . 132 (1): 103–114 ดอย : 10.13182 / nt00-a3132 . S2CID  94639273
  57. ^ Ukraintsev, Vladimir (27 กุมภาพันธ์ 2555). "การสอบทานของมาตรวิทยาอ้างอิงสำหรับนาโนเทคโนโลยี: ความสำคัญกับความท้าทายและการแก้ปัญหา" วารสาร Micro / Nanolithography, MEMS และ MOEMS 11 (1): 011010. ดอย : 10.1117 / 1.JMM.11.1.011010 .
  58. ^ วิลเฮลมีโอ; รูสเซลล.; เฟเบอร์พี; เรนต์เจนส์, เอส.; Daniel, G. (มิถุนายน 2553). "การสร้างลำแสงไอออนที่เน้นรูปแบบนาโนที่มีขนาดใหญ่และซับซ้อน" วารสารวิทยาศาสตร์นาโนเชิงทดลอง . 5 (3): 244–250 รหัสไปรษณีย์ : 2010JENan ... 5..244W . ดอย : 10.1080 / 17458080903487448 . S2CID  283449
  59. ^ โวกต์ ฯลฯ ; ดินสอพอง GT; Chowdhury, ค.ศ. ; Weckhuysen, BM (2015). ซีโอไลต์และ zeotypes น้ำมันและก๊าซแปลง ความก้าวหน้าในการเร่งปฏิกิริยา 58 . หน้า 143–314 ดอย : 10.1016 / bs.acat.2015.10.001 . ISBN 9780128021262.
  60. ^ ลาย, Shih-En; Hong, Ying-Jhan; เฉินหยู่ถิง; คังยู - ถิง; ช้าง, ปิ่น; หาวไตรรุ่ง. (18 กันยายน 2558). "การเขียนรูปแบบนาโนของ Cu โดยตรงด้วยลำแสงอิเล็กตรอน" กล้องจุลทรรศน์และ microanalysis 21 (6): 1639–43 รหัสไปรษณีย์ : 2015MiMic..21.1639L . ดอย : 10.1017 / S1431927615015111 . PMID  26381450 S2CID  30803055
  61. ^ ซิซิญญาโน, อันเจโล; ดิโมนาโก, รอสเซลล่า; มาซิ, เปาโล; Cavella, Silvana (ตุลาคม 2015) "จากวัตถุดิบสู่จาน: พาสต้าคุณภาพทีละขั้นตอน". วารสารวิทยาศาสตร์อาหารและการเกษตร . 95 (13): 2579–87 ดอย : 10.1002 / jsfa.7176 . PMID  25783568
  62. ^ Brożek-Mucha, Zuzanna (2014). "กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและ X-Ray microanalysis สำหรับทางเคมีและทางสัณฐานวิทยาลักษณะของนินทรีย์ส่วนประกอบของกระสุนปืนกาก: เลือกปัญหา" BioMed Research International . 2557 : 428038. ดอย : 10.1155 / 2557/428038 . PMC  4082842 PMID  25025050
  63. ^ คาร์โบเนล - เวอร์ดูก.; การ์เซีย - ซาโนเกรา, D.; จอร์ดา - วิลาพลานา, อ.; ซานเชซ - นาเชอร์, L .; บาลาร์ต, อาร์. (2016). "เป็นพลาสติชีวภาพใหม่สำหรับโพลี (ไวนิลคลอไรด์) ตามน้ำมันเมล็ดฝ้ายอิพอกไซด์" วารสารวิทยาศาสตร์พอลิเมอร์ประยุกต์ . 33 (27): 43642. ดอย : 10.1002 / app.43642 . hdl : 10251/82834 .
  64. ^ Ding, Jie; Zhang, Zhiming (1 พฤษภาคม 2558). "ไมโครลักษณะของโลหะที่แตกต่างกันประสานร่วมกันสำหรับการเชื่อมต่อท่อหัวฉีดปลอดภัย-end ในรุ่นที่สามโรงไฟฟ้านิวเคลียร์" แอ็คท่าโลหะบาป . 51 (4): 425–39. ดอย : 10.11900 / 0412.1961.2014.00299 (inactive 2021-01-18).CS1 maint: DOI ไม่มีการใช้งานในเดือนมกราคม 2021 ( ลิงค์ )
  65. ^ Tsikouras, Basilios; Pe-Piper จอร์เจีย; ไพเพอร์เดวิดเจดับบลิว; เชฟเฟอร์ไมเคิล (มิถุนายน 2554) "การวิเคราะห์แร่ธาตุชนิดหนักของแหล่งที่มาของตะกอน, แอ่งสโกเชียนยุคครีเทเชียสตอนล่าง, แคนาดาตะวันออก". ตะกอนธรณีวิทยา 237 (3–4): 150–165 Bibcode : 2011SedG..237..150T . ดอย : 10.1016 / j.sedgeo.2011.02.011 .
  66. ^ หลี่, เซียง; เจียงชวน; แพน, ลิลี่; จางห่าหยาง; หือหรั่ง; Li, Tianxue; Yang, Xinghao (15 กรกฎาคม 2557). "ผลของการเตรียมเทคนิคและอายุต่อพฤติกรรมการละลายของการกระจายตัวของ NF / Soluplus / Kollidon SR: การระบุและการจำแนกโดยการวิเคราะห์แบบรวมโดย FT-IR spectroscopy และวิธีการคำนวณ" การพัฒนายาและเภสัชอุตสาหการ . 41 (1): 2–14. ดอย : 10.3109 / 03639045.2014.938080 . PMID  25026247 S2CID  32460608 .

  • บทนำเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน : แหล่งข้อมูลสำหรับครูและนักเรียน
  • ฐานข้อมูลที่เป็นศูนย์กลางของเซลล์ - ข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • ความช่วยเหลือทางวิทยาศาสตร์: กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน : แหล่งข้อมูลระดับมัธยมศึกษาตอนปลาย (GCSE, A Level)

ทั่วไป

  • ภาพเคลื่อนไหวและคำอธิบายของกล้องจุลทรรศน์ประเภทต่างๆรวมถึงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Université Paris Sud)
  • กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกนสิ่งแวดล้อม (ESEM)
  • เว็บไซต์ ETH Zurich : กราฟิกและรูปภาพที่แสดงขั้นตอนต่างๆ
  • งานสัมมนาของ Eva Nogales: "ความรู้เบื้องต้นเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน"
  • FEI Image Contest : FEI มีการประกวดภาพด้วยกล้องจุลทรรศน์ทุกปีตั้งแต่ปี 2008
  • ความรู้เบื้องต้นเกี่ยวกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนโดย David Szondy
  • แกลเลอรีรูปภาพ Nanohedron.com : ภาพที่สร้างขึ้นโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
  • การวิเคราะห์องค์ประกอบของรังสีเอกซ์ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน : พอร์ทัลข้อมูลที่มีการวิเคราะห์ด้วยรังสีเอกซ์และเนื้อหา EDX

ประวัติศาสตร์

  • ความทรงจำของ John HL Watson ที่มหาวิทยาลัยโตรอนโตเมื่อเขาทำงานร่วมกับ Hillier และ Prebus
  • Rubin Borasky Electron Microscopy Collection, 1930–1988 (หอจดหมายเหตุ, พิพิธภัณฑ์ประวัติศาสตร์อเมริกันแห่งชาติ, สถาบันสมิ ธ โซเนียน)

อื่น ๆ

  • The Royal Microscopical Society, Electron Microscopy Section (UK)
  • Albert Lleal วิชาประวัติศาสตร์ธรรมชาติที่ Scanning Electron Microscope SEM
  • ภาพ EM
TOP